Le bus JTAG, fruit du Joint Test Action Group, résulte d'une reflexion de plusieurs fabricants de semiconducteurs sur le contrôle et l'observation d'éléments de plus en plus difficiles d'accès par les méthodes basées sur les sondes mécaniques classiques, du fait de la miniaturisation croissante des circuits, et la sophistication des boitiers (BGA). L'idée du JTAG est d'intégrer directement sur le silicium, la circuiterie de mesure d'entrées/sorties, controlable par une liaison série simple.
Le bus JTAG donne lieu à deux applications: - La programmation de composants actifs ( sondes d'émulation, mémoires flash, circuits logiques FPGA et CPLD ) - Le test d'interconnections entre les composants d'une même carte ou de plusieurs cartes, ou test 'boundary scan'.
Le JTAG est aujourd'hui normalisé sous le standard IEEE Std 1149.1-1990
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